839 Универсальный интерфейс для измерительного комплекса

Самбурский Лев Михайлович

руководитель проекта

Старт

08.10.2022

Представление

22.10.2022

Постерная сессия

23.01.2023

Защита

30.05.2023

Паспорт проекта

Аннотация

Имеющийся в лаборатории автоматизированный, управляемый с компьютера аппаратно-программный комплекс используется для выполнения договорных работ по измерению электрических характеристик различных электронных компонентов с целью определения их SPICE-моделей для проектирования электронных схем. При поступлении от заказчика очередного задания сейчас нередко бывает нужно разрабатывать дополнительные LabVIEW-модули для комплекса, соответствующие новым для нас типам электронных компонентов и...

Отрасль

Информатика

Цель

Упростить процесс настройки измерительного комплекса на новые типы электронных компонентов и виды электрических характеристик

Ожидаемые результаты

Ожидаемые результаты 2022/23 уч. г.:
1. расширение возможностей универсального пользовательского интерфейса измерительного комплекса *для различных типов измеряемых компонентов*;
2. система хранения (база данных) по настройкам измерений различных типов электронных компонентов и характеристик;
3. локализация особенностей каждой схемы измерений в отдельных vi-модулях;
4. разработка и реализация схемы измерения динамических (переходных и ёмкостных) типов характеристик электронных компонентов;

Форма и способы промежуточного контроля

Еженедельные обсуждения прогресса и результатов в очном/дистанционном формате. Среда фиксации промежуточных результатов: Trello.

Форма представления результатов

1) демонстрация работы виртуального стенда -- в виде видеоролика, 2) отчёт о работе проектной группы, 3) руководство пользователя, 4) руководство разработчика.

Ресурсное обеспечение

Материалы и оборудование УЛ электроники и схемотехники (313), УЛ метрологии и измерительных технологий (223), УЛ моделирования и проектирования электронных компонентов и устройств (220).

Имеющийся задел

Результаты, полученные в 2021/22 уч. г.: 1. первая версия универсального пользовательского интерфейса измерительного комплекса для МОП-транзисторов; 2. ряд шаблонов настроек измерений различных типов электронных компонентов и характеристик, реализованный в пресетах; 3. обобщенная схема измерений статических характеристик.