Завершен
2022 / 2023
839 Универсальный интерфейс для измерительного комплекса
Старт
08.10.2022
Представление
22.10.2022
Постерная сессия
23.01.2023
Защита
30.05.2023
Паспорт проекта
Аннотация
Имеющийся в лаборатории автоматизированный, управляемый с компьютера аппаратно-программный комплекс используется для выполнения договорных работ по измерению электрических характеристик различных электронных компонентов с целью определения их SPICE-моделей для проектирования электронных схем.
При поступлении от заказчика очередного задания сейчас нередко бывает нужно разрабатывать дополнительные LabVIEW-модули для комплекса, соответствующие новым для нас типам электронных компонентов и...
Отрасль
Информатика
Теги
Информатика
Цель
Упростить процесс настройки измерительного комплекса на новые типы электронных компонентов и виды электрических характеристик
Ожидаемые результаты
- Ожидаемые результаты 2022/23 уч. г.:
- 1. расширение возможностей универсального пользовательского интерфейса измерительного комплекса *для различных типов измеряемых компонентов*;
- 2. система хранения (база данных) по настройкам измерений различных типов электронных компонентов и характеристик;
- 3. локализация особенностей каждой схемы измерений в отдельных vi-модулях;
- 4. разработка и реализация схемы измерения динамических (переходных и ёмкостных) типов характеристик электронных компонентов;
Форма и способы промежуточного контроля
Еженедельные обсуждения прогресса и результатов в очном/дистанционном формате. Среда фиксации промежуточных результатов: Trello.
Форма представления результатов
1) демонстрация работы виртуального стенда -- в виде видеоролика,
2) отчёт о работе проектной группы,
3) руководство пользователя,
4) руководство разработчика.
Ресурсное обеспечение
Материалы и оборудование УЛ электроники и схемотехники (313), УЛ метрологии и измерительных технологий (223), УЛ моделирования и проектирования электронных компонентов и устройств (220).
Имеющийся задел
Результаты, полученные в 2021/22 уч. г.:
1. первая версия универсального пользовательского интерфейса измерительного комплекса для МОП-транзисторов;
2. ряд шаблонов настроек измерений различных типов электронных компонентов и характеристик, реализованный в пресетах;
3. обобщенная схема измерений статических характеристик.
Заказчик
МИЭМ / ВШЭ/МИЭМ