Логотип МИЭМ НИУ ВШЭ
Завершен
Логотип типа проекта Программно-аппаратный
Программно-аппаратный
2021 / 2022
Логотип проекта Разработка установки для автоматического тестирования интегрально-оптических микросхем
    От компании

546 Разработка установки для автоматического тестирования интегрально-оптических микросхем

Старт
08.10.2021
Представление
09.10.2021
Постерная сессия
17.02.2022
Защита
18.04.2022

Паспорт проекта

Аннотация

Сегодня интегрально-оптические микросхемы используются во многих напралениях и сферах: коммуникациях, детектировании, сенсинге, в линейно-оптических и квантовых вычислениях. Всё это возможно благодаря низким потерям, малым размерам, возможности интеграции с электронными компонентами и масштабного производства устройств на чипе. Однако при создании интегрально-оптических устройств существенная часть времени расходуется на тестирование и характеризацию данных элементов. Поэтому актуальной задачей...

Отрасль

Информатика

Теги

Информатика

Цель

Создание автоматизированной установки для тестирования интегрально-оптических микросхем

Ожидаемые результаты

  • Ожидаемым результатом проекта будет являться установка с программным модулем для автоматических измерений интегрально-оптических структур с решеточными элементами связи в полу- или автоматическом режиме. Планируется, что столик с помощью разработанных алгоритмов, дополнительной оптической камеры и детектора мощности будет эффективно измерять спектральные характеристики интегрально-оптических структур на чипе, включая кольцевые резонаторы, интерферометры Маха-Цендера, брегговские фильтры и тд. На данный момент разработан алгоритм поиска максимального значения с помощью метода градиентного спуска.

    Форма и способы промежуточного контроля

    Контроль проводится по промежуточным этапам следующим образом: 1) Контроль выбора языка программирования, алгоритмов и архитектуры программного модуля с обоснованием. 2) Представление схематического плана установки для тестирования интегрально-оптических микросхем. 3) Макет измерительного стенда для тестирования интегрально-оптических микросхем. 4) Автоматизированный макет измерительного стенда для тестирования интегрально-оптических микросхем. По первому и второму этапу представляется...

    Форма представления результатов

    Представление презентации с подробным описанием обоснованием выбора языка программирования, алгоритмов и кодов для реализации работы установки с использованием необходимого оборудования и схематическая модель экспериментальной установки, а также видео с демонстрацией процесса измерения матрицы интегрально-оптических устройств в полу- или полностью автоматическом режиме.

    Ресурсное обеспечение

    Необходимые компоненты для создания установки и иные ресурсы будут предоставлены компанией "Тинфотоника"

    Имеющийся задел

    Разработан эффективный алгоритм поиска локального минимума и выбрана подходящая среда разработки.

    Заказчик

    Организация / Тинфотоника