Логотип МИЭМ НИУ ВШЭ
Завершен
Логотип типа проекта Программно-аппаратный
Программно-аппаратный
2020 / 2021
Логотип проекта Автоматизированный комплекс для измерения характеристик и экстракции параметров SPICE-модели партий МОП-транзисторов на основе тестера электронных ком
    От компании

263 Автоматизированный комплекс для измерения характеристик и экстракции параметров SPICE-модели партий МОП-транзисторов на основе тестера электронных ком

Старт
21.05.2020

Паспорт проекта

Аннотация

В проекте будет разработан аппаратно-программный комплекс, предназначенный для полуавтоматизированного выполнения работ по определению SPICE-моделей электронных компонентов. В состав комплекса входит 1) оснастка для подключения объектов измерения, 2) управляющая программа во внутренней среде программирования тестера для управления процессом измерения; 3) управляющая программа во внутренней среде программирования САПР экстракции параметров полупроводниковых компонентов для предварительной...

Отрасль

Информатика

Теги

Информатика

Цель

1. Внедрение в учебный процесс современного отечественного измерительного оборудования. 2. Повышение точности, скорости работы и расширения возможностей системы измерений и экстракции параметров моделей партий МОП-транзисторов за счёт внедрения автоматизированного тестера «Formula 2K».

Ожидаемые результаты

  • *** Проектные. В развитие полученного в прошедшем году:
    • 1) блок согласования и коммутации для подключения партий тестируемых объектов к тестеру;
      • 2) развитой пользовательский программный интерфейс для индивидуальной настройки маршрута идентификации параметров SPICE-моделей;
        • 3) доработанный программный интерфейс в части сбора и отображения статистической информации об объектах измерения.
          • *** Образовательные
            • Развитие знаний, умений и навыков, связанных с применением профессиональных инструментов.

              Форма и способы промежуточного контроля

              1. Сравнение результатов измерений электрических характеристик МОП-транзисторов, произведённых с использованием разработанного комплекса и эталонного (существующего) комплекса. 2. Сравнение результатов моделирования с использованием полученной модели и измерения электрических характеристик тестового МОП-транзистора 3. Сравнение параметров, идентифицированных с использованием разработанного комплекса и эталонного (существующего) комплекса.

              Форма представления результатов

              1\. Демонстрация комплекса в работе на тестовом примере \-\- в форме видеоролика 2\. Результаты измерений электрических характеристик МОП\-транзисторов\, произведённых с использованием разработанного комплекса \-\- в виде графиков и таблиц значений\. 3\. Spice\-модель МОПТ с параметрами\, идентифицированными с использованием разработанного комплекса \-\- в виде листинга\. 4\. Наложение электрических характеристик\, измеренных с использованием тестера и смоделированных с использованием spice\-мод

              Ресурсное обеспечение

              1. Тестер электронных компонентов серии «Формула». 2. Возможности по изготовлению макетов электронных устройств на печатных платах. 3. Контрольно-измерительное оборудование (вольтметры, микроамперметры).

              Имеющийся задел

              Заполнено автоматически

              Заказчик