Для моделирования работы схем на СВЧ диапазоне необходимо иметь модели электронных компонентов, учитывающие паразитные параметры реальных компонентов. Для получения таких моделей необходимо проводить измерения электрических характеристик и S-параметров компонентов в требуемом диапазоне частот и на основании этих измерений определять параметры схемных моделей этих компонентов. Соответственно, в проекте , на основании результатов измерений высокочастотных характеристик электронных компонентов...Подробнее

Повышение качества проектирования и надежности электронной аппаратуры, работающей в СВЧ диапазонах (до 5 ГГц) за счет улучшенного учета влияния паразитных параметров как самих компонентов, так и их корпусов , а также условий их размещения на печатной плате на характеристики схемы.

Способом промежуточного контроля является представление отчетов в Wekan с содержанием информации о выполненной работе. Личный отчет о проделанной работе

Отчет по работе, презентация, описание разработанной измерительной оснастки, методик измерения, описания моделей, примеры расчетов схемных фрагментов Отчеты с содержанием информации о выполненной работе. Итоговый отчет по проекту Презентация по проекту Набор моделей Описания моделей и методов их получения

Измеритель s-параметров компонентов схем (ауд. 321). Измерительная оснастка для измерения S-параметров пассивных компонентов (ауд. 220, 321). Программное обеспечение для моделирования СВЧ схем (ауд. 220).

Измерительная оснастка для измерения S-параметров пассивных компонентов (ауд. 321). Опыт измерения ВЧ характеристик и определения ВЧ параметров моделей пассивных компонентов у коллег руководителя проекта