Логотип МИЭМ НИУ ВШЭ
Рабочий
Логотип типа проекта Программно-аппаратный
Программно-аппаратный
2025 / 2026
Логотип проекта Разработка и изготовление сменных плат для измерения характеристик электронных компонентов с целью расширения возможностей автоматизированного тестера

    2402 Разработка и изготовление сменных плат для измерения характеристик электронных компонентов с целью расширения возможностей автоматизированного тестера

    Старт
    23.12.2025
    Представление
    26.01.2026 – 06.02.2026
    Постерная сессия
    06.04.2026 – 17.04.2026
    Защита
    08.06.2026 – 19.06.2026

    Паспорт проекта

    Аннотация

    В департаменте электронной инженерии используется тестер полупроводниковых приборов ТТ3 компании «Форм». Для подключения и измерения электрических характеристик электронных компонентов (диодов, транзисторов, микросборок и т,д,) с использованием данного тестера, необходимо иметь специальные платы, обеспечивающие подключение электронных компонентов в конкретном корпусе к тестеру. В комплекте к тестеру ТТ3 имеется только плата для корпуса ТО220. Для расширения возможностей автоматизированного...

    Отрасль

    Электротехника

    Теги

    Электроника
    ТТЗ
    Платы

    Цель

    Расширение возможностей автоматизированного тестера полупроводниковых приборов ТТ3 в части измерения характеристик компонентов в различных корпусах: маломощных с гибкими выводами (ТО72, ТО92, ТО18, ТО52 и др.), мощных компонентов (ТО126, ТО218, ТО 247 и др.)

    Ожидаемые результаты

    • Проектные:
      • Проекты печатных плат и сами платы для измерения характеристик электронных компонентов: с гибкими выводами , мощных компонентов
      • Изготовленные и протестированные платы
      • Описания и документация на платы
      • Измеренные с использованием разработанных плат электрические характеристики электронных компонентов
    • Образовательные (в увязке с требованиями ОС НИУ ВШЭ):
      • Развитие знаний, умений и навыков, связанных с применением профессиональных инструментов

    Форма и способы промежуточного контроля

    Способом промежуточного контроля является представление отчетов в Wekan с содержанием информации о выполненной работе. Личный отчет о проделанной работе

    Форма представления результатов

    - Отчет по работе, презентация, описание разработанных плат, примеры измеренных характеристик - Отчеты с содержанием информации о выполненной работе - Итоговый отчет по проекту - Презентация по проекту

    Ресурсное обеспечение

    Тестер полупроводниковых приборов ТТ3 компании «Форм», имеющийся в департаменте электрон. инженерии (ауд. 220). Описания тестера и тестовых плат. Плата для подключения компонентов в корпусе ТО220 (ауд. 220)

    Имеющийся задел

    Опыт проведения измерений с использованием Тестера полупроводниковых приборов ТТ3 компании «Форм» и плата для подключения компонентов в корпусе ТО220 (ауд. 220)

    Заказчик

    МИЭМ / ДЭИ