Логотип МИЭМ НИУ ВШЭ
Новый
Логотип типа проекта Программно-аппаратный
Программно-аппаратный
2025 / 2026
Логотип проекта Разработка SPICE-моделей  диодов, биполярных и полевых транзисторов для схемотехнического моделирования аппаратуры с учетом влияния температуры

    1996 Разработка SPICE-моделей диодов, биполярных и полевых транзисторов для схемотехнического моделирования аппаратуры с учетом влияния температуры

    Продлен
    05.12.2025
    На доработке
    08.12.2025
    Исправлено
    08.12.2025
    На доработке
    09.12.2025
    Исправлено
    09.12.2025
    Контроль ПО
    09.12.2025
    Отправлен на комиссию
    09.12.2025
    На доработке
    19.12.2025
    Исправлено
    29.12.2025
    Отправлен на комиссию
    12.01.2026
    Одобрен

    Паспорт проекта

    Аннотация

    Для схемотехнического проектирования элементной базы и электронной аппаратуры для ответственных применений требуются SPICE модели полупроводниковых приборов, учитывающие влияние внешних условий - температуры в диапазоне -70....+130С. Схемотехнические модели отечественных компонентов в настоящее время практически не разрабатываются, что не позволяет проводить проектирование аппаратуры с использованием SPICE подобных программ, тем более, с учетом температурного влияния. Поэтому, основной целью...

    Отрасль

    Электроника. Радиотехника

    Теги

    Электроника
    Транзисторы
    Измерения
    Влияние температуры
    SPICE модели

    Цель

    1. Расширение возможностей измерительно-программного комплекса для измерения характеристик и разработки SPICE моделей компонентов, разработанного ранее (вносимые улучшения указаны в Ожидаемых результатах). 2. Разработка с его помощью SPICE моделей диодов, биполярных, полевых транзисторов на основании результатов измерений их характеристик для последующего схемотехнического моделирования аппаратуры с учетом влияния температуры, необходимых для проведения схемотехнического моделирования...

    Ожидаемые результаты

    • Разработка программных модулей в среде IC CAP для автоматизированного управления измерительным оборудованием
      • Разработка дополнительных программных модулей в среде IC CAP для обработки результатов измерений в процессе экстракции параметров моделей
        • Измерение электрических характеристик электронных компонентов в автоматизированном режиме с учётом воздействия температуры:

          Форма и способы промежуточного контроля

          Способом промежуточного контроля является представление отчетов с содержанием информации о выполненной работе

          Форма представления результатов

          Отчеты с содержанием информации о выполненной работе. Измеренные характеристики Итоговый отчет по проекту Презентация по проекту Набор моделей

          Ресурсное обеспечение

          Для выполнения работы требуются средства измерений (вольтметры и амперметры, генераторы, осциллографы), источники питания, персональный компьютер, а также САПР для схемотехнического проектирования . Средства измерений имеются в лаборатории 220. В качестве САПР для схемотехнического проектирования предполагается использовать LtSpice, имеющийся в сети ВШЭ. Камера тепла и холода (-80...+160С) имеется в ауд. 220.

          Имеющийся задел

          1. Выполненный ранее проект (этот) по данной тематике. 2. Руководитель проекта и и др. сотрудники ДЭИ (Самбурский Л.М., Кожухов М.В, Исмаил-Заде М.Р.) уже проводили подобные работы и имеют необходимый опыт руководства такими работами. 3. Измерительное оборудование и ПО, необходимое для выполнения проекта, имеются в лабораториях 220 и 325.

          Заказчик

          МИЭМ / ДЭИ