Логотип МИЭМ НИУ ВШЭ
Завершен
Логотип типа проекта Программно-аппаратный
Программно-аппаратный
2023 / 2024
Логотип проекта Автоматизированный комплекс для измерения характеристик электронных компонентов при криогенных температурах

    1853 Автоматизированный комплекс для измерения характеристик электронных компонентов при криогенных температурах

    Старт
    19.12.2023
    Представление
    27.01.2024 – 07.02.2024
    Постерная сессия
    24.04.2024
    Защита
    05.11.2024 – 15.11.2024

    Паспорт проекта

    Аннотация

    В проекте будет спроектирована, собранна и протестирована измерительная система, включающая: - аппаратную часть - управлемые источники питаня, измерители тока и напряжения, измерительная оснастка для подключения тестируемых компонентов к автоматизированной системе , - и программную часть - управлющую программу для управления этой системой, для автоматизированных измерений вольт-амперных характеристик электронных компонентов (диодов, транзисторов различных типов и др.) при криогенных...

    Отрасль

    Информатика

    Теги

    Информатика

    Цель

    Внедрение в учебный процесс современного отечественного автоматизированного измерительного оборудования. Повышение точности, скорости работы и расширения возможностей системы измерений вольт-амперных характеристик электронных компонентов (диодов, транзисторов различных типов и др.) при криогенных температурах, за счет соединения контрольно-измерительного оборудования (управлемых источников питания, измерителей тока и напряжения) в одну систему и написания управлющей программы для управления...

    Ожидаемые результаты

    • Ожидаемые результаты в 2023/24 уч. г.:
      • разработка в виде универсального измерительного стенда для автоматизированного измерения характеристик различных электронных компонентов малой и средней мощности;
        • разработка Labview-драйверов для имеющихся в лаборатории контрольно-измерительных приборов: источников напряжения, цифровых измерителей токов и напряжений;
          • измеренные характеристики тестовых электронных компонентов при криогенных температурах.

            Форма и способы промежуточного контроля

            Определяется проектной документацией.

            Форма представления результатов

            Определяется проектной документацией. На завершающей стадии проекта предусмотрена презентация результатов проекта. Инструкция по работе с измерительным комплексом для измерения характеристик электронных компонентов. Описание измерительного комплекса. Описание управляющей программы комплекса. Измеренные характеристики электронных компонентов

            Ресурсное обеспечение

            Контрольно-измерительное оборудование (источники питания различной мощности, цифровые измерители токов и напряжений) в лаб. 220. Имеющиеся наработки по автоматизированным системам измерений характеристик электронных компонентов, полученные по результатам выполнения проектов: проект #1013 , Программно-аппаратный (ДЭИ), Аппаратная часть Экстрактора SPICE-моделей; проект #839 , Программный (ВШЭ/МИЭМ), Универсальный интерфейс для измерительного комплекса. Криогенное оборудование лабораторий...

            Имеющийся задел

            Контрольно-измерительное оборудование (источники питания различной мощности, цифровые измерители токов и напряжений) в лаб. 220. Имеющиеся наработки по автоматизированным системам измерений характеристик электронных компонентов, полученные по результатам выполнения проектов: проект #1013 , Программно-аппаратный (ДЭИ), Аппаратная часть Экстрактора SPICE-моделей; проект #839 , Программный (ВШЭ/МИЭМ), Универсальный интерфейс для измерительного комплекса. Криогенное оборудование лабораторий...

            Заказчик

            МИЭМ / ДЭИ