В проекте будет изготовлена и протестирована измерительная оснастка для подключения тестируемых транзисторов к автоматизированному тестеру серии «Формула»; разработана и отлажена управляющая программа во внутренней среде программирования тестера для управления процессом измерения; разработана и отлажена управляющая программа во внутренней среде программирования САПР экстракции параметров полупроводниковых компонентов для предварительной обработки результатов измерения, определения параметров...Подробнее

1. Внедрение в учебный процесс современного отечественного измерительного оборудования. 2. Повышение точности, скорости работы и расширения возможностей системы измерений и экстракции параметров  моделей партий МОП-транзисторов за счёт внедрения автоматизированного тестера «Formula 2K».

1\. Сравнение результатов измерений электрических характеристик МОП\-транзисторов\, произведённых с использованием разработанного комплекса и эталонного \(существующего\) комплекса\. 2\. Сравнение результатов моделирования с использованием полученной модели и измерения электрических характеристик тестового МОП\-транзистора 3\. Сравнение параметров\, идентифицированных с использованием разработанного комплекса и эталонного \(существующего\) комплекса\.

1\. Демонстрация комплекса в работе на тестовом примере \-\- в форме видеоролика 2\. Результаты измерений электрических характеристик МОП\-транзисторов\, произведённых с использованием разработанного комплекса \-\- в виде графиков и таблиц значений\. 3\. Spice\-модель МОПТ с параметрами\, идентифицированными с использованием разработанного комплекса \-\- в виде листинга\. 4\. Наложение электрических характеристик\, измеренных с использованием тестера и смоделированных с использованием spice\-мод

1\. Тестер электронных компонентов серии «Формула»\. 2\. Возможности по изготовлению макетов электронных устройств на печатных платах\. 3\. Контрольно\-измерительное оборудование \(вольтметры\, микроамперметры\)\.

Заполнено автоматически