1243 Разработка макета интерференционного микроскопа с источником широкого спектрального диапазона

Минаев Владимир Леонидович

руководитель проекта

Старт

16.01.2023

Представление

23.06.2023

Постерная сессия

03.11.2023

Защита

27.01.2024 – 07.02.2024

Паспорт проекта

Аннотация

В настоящее время на отечественных предприятиях, изготавливающих оптические детали различного назначения, существует потребность в высокоточных интерферометрических приборах для производственного и аттестационного контроля обрабатываемых профиля поверхности и шероховатости рабочих поверхностей в субнанометровом диапазоне высот. Оценка качества поверхностей деталей производится по анализу волнового фронта оптического излучения, отраженного от исследуемой поверхность. Для этого как правило...

Отрасль

Информатика

Цель

Разработка конструкции интерференционного микроскопа с источником широкого спектрального диапазона и алгоритма восстановления поверхности по полученным интерферограммам

Ожидаемые результаты

1 Макет интерференционного микроскопа с источником широкого спектрального диапазона
2 Программное обеспечение для микроскопа
3 Конструкторская документация на микроскоп (спецификация, чертеж общего вида, чертежи деталей, сборочный чертеж)
4 Эксплуатационная документация на микроскоп (ведомость эксплуатационных документов, паспорт, руководство по эксплуатации)
5 Программная документация на программное обеспечение для микроскопа (спецификация, руководство оператора, текст программы)

Форма и способы промежуточного контроля

Для выполнения проекта установлены 3 этапа работы (подготовительный, основной. заключительный), заканчивающиеся промежуточным контролем: • представление проекта (конец октября учебного года); • постерная зимняя сессия (конец января учебного года); • защита проекта (конец апреля учебного года). В зависимости от условий обучения отчеты команды на этапах могут проходить в очном, дистанционном и гибридном форматах.