В проекте будет сформирован и верифицирован по литературным данным набор моделей интегральных КМОП транзисторов для пакета SPICE (c наиболее актуальными для отечественных изготовителей и проектировщиков БИС на сегодняшний день размерами - 28 нм), учитывающих их старение в процессе работы, с использованием разработанных моделей будут смоделированы и проанализированы статические и динамические характеристики схемных фрагментов КМОП схем с учетом этих факторов.

Повышение достоверности и точности расчетов характеристик электронных схем за счет учета влияния процессов естественного старения КМОП-транзисторов вследствие «горячих носителей и др. процессов» в процессе работы схемы на характеристики схем.

Определяется проектной документацией

Определяется проектной документацией. На завершающей стадии проекта предусмотрена презентация результатов проекта.

УЛ 220, 325, возможно другие УЛ ДЭИ. Возможна удаленная работа с поддержанием постоянного контакта с руководителем

   В результате выполнения проекта  #1199 (Программно-аппаратный (ДЭИ))  «Моделирование работы КМОП схем с учетом воздействия на них внутренних факторов старения со временем»  была написана программа на языке Pyton для автоматизации анализа проявления эффектов старения в МОП схемах. Программа была настроена на проектные нормы 28 нм и учитывает часть факторов старения в КМОП схемах. Были промоделированы несколько схем с данными проектными нормами. В продолжении проекте необходимо расширить...Подробнее