1199 Моделирование работы КМОП схем с учетом воздействия на них внутренних факторов старения со временем

Харитонов Игорь Анатольевич

руководитель проекта

Старт

12.09.2022

Представление

22.10.2022

Постерная сессия

23.01.2023

Защита

31.05.2023

Паспорт проекта

Аннотация

В проекте будет сформирован и верифицирован по литературным данным набор моделей интегральных КМОП транзисторов для пакета SPICE (c наиболее актуальными для отечественных изготовителей и проектировщиков БИС на сегодняшний день размерами - 28 нм), учитывающих их старение в процессе работы, с использованием разработанных моделей будут смоделированы и проанализированы статические и динамические характеристики схемных фрагментов КМОП схем с учетом этих факторов.

Отрасль

Информатика

Цель

Повышение достоверности и точности расчетов характеристик электронных схем за счет учета влияния процессов естественного старения КМОП-транзисторов вследствие «горячих носителей и др. процессов» в процессе работы схемы на характеристики схем.

Ожидаемые результаты

Проектные:
- Набор моделей интегральных КМОП транзисторов для пакета SPICE , учитывающих влияние их старения в процессе работы на характеристики транзисторов.
- Статические и динамические характеристики схемных фрагментов КМОП схем с учетом факторов старения компонентов.

Форма и способы промежуточного контроля

Определяется проектной документацией

Форма представления результатов

Определяется проектной документацией. На завершающей стадии проекта предусмотрена презентация результатов проекта.

Ресурсное обеспечение

УЛ 220, 325, возможно другие УЛ ДЭИ. Возможна удаленная работа с поддержанием постоянного контакта с руководителем

Имеющийся задел

Имеются грубо (на данный момент) настроенные модели в MAthCAd для учета старения МОП транзисторов с различными проектными нормами. Они были сделаны в ходе выполнения проекта 2021-2022 гг. Имеются SPICE модели МОПТ с различными проектными нормами. Имеется большое количество литературы по описанию эффектов старения в МОПТ.