Завершен
2021 / 2022

1089 Моделирование характеристик МДП транзисторов с учетом деградации их со временем и статистического разброса
Старт
15.01.2022
Представление
28.01.2022
Постерная сессия
18.04.2022
Защита
13.05.2022
Паспорт проекта
Аннотация
Будут обработаны литературные данные по деградации характеристик и параметров МОП транзисторов с учетом факторов их деградации со временем и разброса параметров . Будут проанализированы варианты транзисторов с различными проектными нормами: от микрометров до нанометров.
Будут разработаны модели для расчета измененных параметров МОПТ с учетом указанных выше факторов для последующего моделирования схем на этих транзисторах в пакете SPICE и оценки надежности и времени бессбойной работы...
Отрасль
Информатика
Теги
Информатика
Цель
Существенное повышение качества проектирования и надежности интегральной электроники аппаратуры за счет улучшенного учета влияния факторов статистического разброса на долговременное изменения параметров и характеристик МОП транзисторов при их работе в схемах.
Ожидаемые результаты
- Проектные:
- Обработанные (литературные) данные по деградации характеристик и параметров МОПТ со временем с учетом разброса их параметров. Модели для расчета измененных параметров МОПТ с учетом факторов старения и разброса для моделирования схем на этих транзисторах в программе анализа схем SPICE. Описание моделей. Смоделированные электрические характеристики МОП транзисторов и фрагметов схем с учетом их старения со временем и .разброса параметров.
- Образовательные:
Форма и способы промежуточного контроля
Определяется проектной документацией.
Форма представления результатов
Определяется проектной документацией.
Ресурсное обеспечение
Имеющееся в ДЭИ программное обеспечение для SPICE моделирования схем (Ауд. 220, 325), доступ в Internet. .
Имеющийся задел
научные статьи с данными по долговременному изменению параметров и характеристик МОП транзисторов и статистическому разбросы при их работе в схемах
Заказчик
МИЭМ / ДЭИ