Логотип МИЭМ НИУ ВШЭ
Завершен
Логотип типа проекта Программно-аппаратный
Программно-аппаратный
2021 / 2022
Логотип проекта Аппаратная часть Экстрактора SPICE-моделей

    1013 Аппаратная часть Экстрактора SPICE-моделей

    Старт
    01.09.2021
    Представление
    08.11.2021
    Постерная сессия
    17.02.2022
    Защита
    06.06.2022

    Паспорт проекта

    Аннотация

    В проекте будет изготовлена и протестирована измерительная оснастка для подключения тестируемых МОП-транзисторов средней мощности к автоматизированному тестеру серии «Формула» или другой автоматизированной системе измерений -- с целью дальнейшего определения параметров SPICE-модели. Дополнительно будут учтены вопросы остужения/предотвращения нагрева измеряемых компонентов; измерения квазистатических характеристик в импульсном режиме с использованием генератора и осциллографа. Этот проект...

    Отрасль

    Информатика

    Теги

    Информатика

    Цель

    Цель направления: 1. Внедрение в учебный процесс современного отечественного измерительного оборудования. 2. Повышение точности, скорости работы и расширения возможностей системы измерений и экстракции параметров моделей партий МОП-транзисторов средней мощности за счёт внедрения автоматизированного тестера «Formula 2K» и другого сложного контрольно-измерительного оборудования. Цель проекта: Расширение возможностей, а также повышение точности, скорости работы Экстрактора SPICE-моделей за счёт...

    Ожидаемые результаты

    • Проектные
      • Автоматизированный комплекс для измерения параметров моделей МОП-транзисторов средней мощности и/или с недостаточным теплоотводом на основе тестера серии «Формула» или другой измерительной системы. Измерительная оснастка для подключения партий тестируемых транзисторов к тестеру.
        • Образовательные
          • Развитие знаний, умений и навыков, связанных с применением профессиональных инструментов.

            Форма и способы промежуточного контроля

            1. Сравнение результатов измерений электрических характеристик МОП-транзисторов, произведённых с использованием разработанного комплекса и эталонного (существующего) комплекса.

            Форма представления результатов

            1. демонстрация комплекса в работе на тестовом примере -- в форме видеоролика; 2. результаты измерений электрических характеристик МОП-транзисторов, произведённых с использованием разработанного комплекса -- в виде графиков и таблиц значений;

            Ресурсное обеспечение

            1. Тестер электронных компонентов серии «Формула». 2. Возможности по изготовлению макетов электронных устройств на печатных платах. 3. Контрольно-измерительное оборудование (источники питания различной мощности, вольтметры, микроамперметры, генератор сигналов, осциллограф).

            Имеющийся задел

            Система для измерения характеристик и расчёта основных параметров SPICE-моделей партий МОП-транзисторов малой мощности на основе тестера электронных компонентов серии «Формула».

            Заказчик

            МИЭМ / ДЭИ